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美國(guó)伊諾斯 DPO-2000合金分析儀 用于材料成分辨別（PMI）的XRF分析儀在金屬制造業(yè)的質(zhì)量控制和質(zhì)量保證方面起著舉足輕重的作用。這款儀器對(duì)關(guān)鍵性部件、原材料以及焊縫，進(jìn)行材料成份分析和合金級(jí)別鑒定。

HeLeeX E8 RoHS檢測(cè)儀器/無鹵檢測(cè)分析儀是一款專門RoHS檢測(cè)儀器，其核心光路系統(tǒng)集合國(guó)內(nèi)外幾十年EDXRF*技術(shù)，核心部件采用美國(guó)進(jìn)口，軟件算法采用美國(guó)EDXRF前沿技術(shù)，儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)報(bào)告；HeLeeXE8精密度高、準(zhǔn)確度、檢出限等技術(shù)參數(shù)全面超過國(guó)內(nèi)外同類儀器。

HeLeeX E9-M 合金分析儀是一款高性能能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF），是目前國(guó)內(nèi)一 款既能測(cè)輕元素，又能測(cè)揮發(fā)性液體的多樣品連續(xù)無人值守測(cè)試XRF。與普通EDXRF相比，具有測(cè)試時(shí)間短（E9僅需60秒，普通EDXRF需要300秒的分析時(shí)間）；測(cè)試穩(wěn)定性高，可無人值守連續(xù)測(cè)試多個(gè)樣品，對(duì)輕元素也有非常好的檢測(cè)下限和檢測(cè)精度。

E9-S 合金分析儀是一款高性能能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF），是目前國(guó)內(nèi)一 款既能測(cè)輕元素，又能測(cè)揮發(fā)性液體的XRF。與普通EDXRF相比，具有測(cè)試時(shí)間短（E9僅需60秒，普通EDXRF需要300秒的分析時(shí)間）；測(cè)試穩(wěn)定性高，對(duì)輕元素也有非常好的檢測(cè)下限和檢測(cè)精度。

E8-PMA 貴金屬分析儀是一款高性能專業(yè)測(cè)試貴金屬的能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF），其核心光路系統(tǒng)集合國(guó)內(nèi)外幾十年EDXRF*技術(shù)，核心部件采用美國(guó)進(jìn)口，軟件算法采用美國(guó)EDXRF前沿技術(shù)，儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)報(bào)告； E8-PMA采用小光斑設(shè)計(jì)，多種工作模型供選擇，測(cè)試數(shù)據(jù)高，穩(wěn)定性強(qiáng)。

專業(yè)的E8-SPR 鍍層測(cè)厚分析儀器是一款高性能能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF），與普通EDXRF相比，分辨率高，其核心光路系統(tǒng)集合國(guó)內(nèi)外幾十年EDXRF*技術(shù)，核心部件采用美國(guó)進(jìn)口，軟件算法采用美國(guó)EDXRF前沿技術(shù)，儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)報(bào)告； E8-SPR采用小光斑設(shè)計(jì)，多種工作模型供選擇，測(cè)試數(shù)據(jù)更，更穩(wěn)定。

E3-3D 三維定位鍍層測(cè)厚分析儀器是一款通用型能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF），專門用于鍍層厚度檢測(cè)；其核心部件采用美國(guó)進(jìn)口，軟件算法采用美國(guó)EDXRF前沿技術(shù)，儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)報(bào)告；精密度、準(zhǔn)確度、檢出限等技術(shù)參數(shù)全面超過國(guó)內(nèi)外同類儀器，特別針對(duì)大件異形不平整樣品，無需拆分，直接測(cè)試即可達(dá)到的測(cè)試效果。

J001紫外成像儀Uvolle-VC 分析儀器 UVOLLE-VC是一款強(qiáng)大的緊湊型雙通道紫外—可見光成像儀。全日盲雙光譜系統(tǒng)，它能使您在白天進(jìn)行電暈和電弧的定位、顯示和記錄。UVOLLE-VC模型能實(shí)現(xiàn)高、中壓電氣設(shè)備如：絕緣子、套管、汽車發(fā)電機(jī)、變壓器、開關(guān)設(shè)備等的掃描要求。VC與SC的顯要區(qū)別在于VC可以用于拍攝視頻并設(shè)置有音頻麥克風(fēng)接口，可進(jìn)行動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)及錄音。