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E3-3D 三維定位鍍層測厚分析儀器是一款通用型能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF)，專門用于鍍層厚度檢測；其核心部件采用美國進口，軟件算法采用美國EDXRF前沿技術，儀器所用標準樣品均有第三方檢測機構報告；精密度、準確度、檢出限等技術參數全面超過國內外同類儀器，特別針對大件異形不平整樣品，無需拆分，直接測試即可達到*的測試效果。

E3-3D 三維定位鍍層測厚分析儀器產品特點：

● 樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽X射線

● 輻射標志警示          

● 儀器經第三方檢測，X射線劑量率*符合GB18871-2002《電離輻射防護與輻射源安全基本標準》

硬件技術

● X射線下照式，激光對焦可調樣品倉，對于異形不平整樣品，無需拆分打磨，可直接測試

● 模塊化準直器，根據分析元素，配備不同材質準直器，從而降低準直器對分析元素的影響，提高元素分辨率

● zui小光斑0.2mm，可針對各種樣品中的小測試點*定位，避免材質干擾，測量結果更準確

● 空氣動力學設計，加速光管冷卻，有效降低儀器內部溫度；靜音設計

● 電路系統符合EMC、FCC測試標準

軟件技術

● 分析元素：Na~U之間元素

● 分析時間：90秒

● 界面簡潔，模塊化設計，功能清晰，易操作

● 數據一鍵備份，一鍵還原、一鍵清理功能，保護用戶數據安全

● 根據不同基體樣品，配備三種算法，增加樣品測試精準度

● 配備開放式分析模型功能，客戶可自行建立自己的工作模型。

產品規格：

●外形尺寸：360 mm x 600mm x 385 mm （長x寬x高）

●樣品倉尺寸：360mm×400mm x160（長x寬x高，高度可定制）

●儀器重量：50kg

●供電電源：AC220V/ 50Hz

●zui大功率：330W

●工作溫度：15-30℃

●相對濕度：≤85%，不結露

配件配置：

探測器

● 類型：X123探測器（*高性能電致冷半導體探測器）

● Be窗厚度：1mil

● 晶體面積：25mm2

● *分辨率：145eV

●信號處理系統：DP5

X射線管

●電壓：0-50v

●zui大電流;2mA

●zui大功率:50W

●靶材：Mo

●Be窗厚度：0.2mm

●使用壽命：大于2w小時

高壓電源

●輸出電壓：0-50Kv

●燈絲電流0-2mA

●zui大功率：50w

●紋波系數：0.1%（p-p值）

●8小時穩定性：0.05%

攝像頭

●焦距：微焦距

●驅動:免驅動

●像素：500萬像素

準直器、濾光片

●系統：快拆卸準直器、濾光片系統

●材質：多種材質準直器

●光斑：光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可選

十字激光頭

●光斑形狀：十字線

●輸出波長：紅光650nm

●光學透鏡：玻璃透鏡

●尺寸：Φ10×30mm

●發散角度：0.1-2mrad

●工作電壓：DC 5V

●輸出功率：<5mW

●工作溫度：－10～50℃

其它配件

●開關電源：進口高性能開關電源

●散熱風扇：進口低噪聲、大風量風扇